count system
カウントを用いた審査官の評価システム。
審査官は、審査における各ステージに到達する度に、「カウント」で表されるクレジットを与えられ、毎年、最低限のカウントを取得することが求められる。
Joint Labor and Management Count System Overview
https://www.uspto.gov/patents/initiatives/patent-examiner-count-system
カウントを用いた審査官の評価システム。
審査官は、審査における各ステージに到達する度に、「カウント」で表されるクレジットを与えられ、毎年、最低限のカウントを取得することが求められる。
Joint Labor and Management Count System Overview
https://www.uspto.gov/patents/initiatives/patent-examiner-count-system
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